4月25日消息，国家知识产权局信息显示，西安奕斯伟材料科技股份有限公司、西安欣芯材料科技有限公司申请一项名为“AGV控制方法及装置”的专利，授权公告号CN116184962B，授权公告日为2026年4月24日。申请公布号为CN116184962A，申请号为CN202310176461.3，申请公布日期为2026年4月24日，申请日期为2023年2月28日，发明人赵恒、陈建勇、周宁，专利代理机构北京银龙知识产权代理有限公司，专利代理师张博，分类号G05B19/418。
专利摘要显示，本发明提供了一种AGV控制方法及装置，属于AGV管理技术领域。AGV控制方法，包括：获取生产参数，所述生产参数包括以下至少一项：生产设备的日生产计划量，生产设备的状态，生产设备的设备维护计划，AGV的设备维护计划；根据所述生产参数确定第一充电阈值和第二充电阈值，所述第一充电阈值小于所述第二充电阈值；获取AGV的电量，在所述AGV的电量小于所述第一充电阈值时，控制所述AGV在当前作业完成后行驶至设定位置充电；在所述AGV的电量大于所述第二充电阈值时，控制所述AGV接受调度任务指令。本发明的技术方案能够提升搬送效率。
西安奕材于2016年3月16日成立，于2025年10月28日在上海证券交易所上市，注册地址和办公地址均为陕西省西安市。该公司专注12英寸硅片研发、生产与销售，是行业内具有较强竞争力的企业。
西安奕材主营业务为12英寸硅片的研发、生产和销售，所属申万行业为电子 - 半导体 - 半导体材料，所属概念板块包括国家大基金持股、次新股、新股与次新股。
2025年，西安奕材营业收入26.49亿元，在行业19家企业中排名第4，行业第一名有研新材为95.42亿元，第二名江丰电子为46.04亿元，行业平均数为18.26亿元，中位数为10.05亿元。其主营业务构成中，测试片10.42亿元占比39.52%，抛光片9.84亿元占比37.33%，外延片6.1亿元占比23.14%，其中高端测试片4.61亿元占比17.48%。净利润方面，2025年为 -7.38亿元，在行业中排名18/19，行业第一名江丰电子为4.14亿元，第二名中船特气为3.46亿元，行业平均数为 -2877.19万元，中位数为6578.9万元。
西安奕斯伟材料科技股份有限公司近期专利情况如下：
序号 专利名称 专利类型 法律状态 申请号 申请日期 公开(公告)号 公开(公告)日期 发明人 1 硅片刻蚀方法和硅片刻蚀设备 发明专利 公布 CN202610079762.8 2026-01-21 CN121865865A 2026-04-14 贾志怡 2 控制半导体单晶生长的方法、装置、及晶棒 发明专利 公布 CN202512010297.0 2025-12-29 CN121653837A 2026-03-13 杨文武、宁沛娜 3 拉晶工艺的功率控制方法、装置、设备及计算机存储介质 发明专利 公布 CN202511996021.8 2025-12-26 CN121675079A 2026-03-17 杨文武、宁沛娜 4 抛光头组件、化学机械抛光系统及晶圆的制备方法 发明专利 公布 CN202511911677.5 2025-12-17 CN121624982A 2026-03-10 王鹏、许涛、杨启 5 晶圆检测设备和晶圆检测方法 发明专利 公布 CN202511904874.4 2025-12-17 CN121678673A 2026-03-17 薛博涛、陈光林、刘玉乾、黄兆皓 6 线切割装置及线切割取样方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511899233.4 2025-12-16 CN121403584A 2026-01-27 王晋飞 7 一种电阻率测试装置及方法 发明专利 公布 CN202511897839.4 2025-12-16 CN121917845A 2026-04-24 贺鹏 8 清洗设备、清洗方法、清洗装置、控制设备、产品及介质 发明专利 公布 CN202511866027.3 2025-12-11 CN121665982A 2026-03-13 张树星、陈海龙、夏新超、左斌 9 一种拉晶装置及拉晶方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511869249.0 2025-12-11 CN121781273A 2026-04-03 闫龙、张鹏举、吴超、纪天平、李智超 10 热场调节装置、单晶炉和热场调节方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511856243.X 2025-12-10 CN121344772A 2026-01-16 黄文洋 11 一种籽晶倾斜检测方法及装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511855413.2 2025-12-10 CN121366283A 2026-01-20 彭标、孙洪涛 12 一种晶棒切割装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511858998.3 2025-12-10 CN121572470A 2026-02-27 王磊磊、霍慧文、刘士靖、刘倩 13 一种砂轮参数确定方法及装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511854835.8 2025-12-10 CN121580854A 2026-02-27 李彤、兰洵、袁力军、李安杰、张婉婉 14 一种拉晶收尾的控制方法及系统 发明专利 公布 CN202511858477.8 2025-12-10 CN121826878A 2026-04-10 纪天平、彭标、闫龙 15 一种晶圆的检测方法、系统及介质 发明专利 公布 CN202511859289.7 2025-12-10 CN121908854A 2026-04-21 史铁柱、庞鲁、王龙 16 晶圆检测方法及相关装置 发明专利 公布 CN202511837367.3 2025-12-08 CN121665979A 2026-03-13 吕天爽 17 晶棒长度的确定方法、装置、介质及晶体生长系统 发明专利 公布 CN202511840689.3 2025-12-08 CN121874923A 2026-04-17 赵亮 18 一种单片清洗装置及方法 发明专利 公布 CN202511840630.4 2025-12-08 CN121888884A 2026-04-17 左斌、陈海龙、王颖、张树星、夏新超 19 硅片研磨的生产系统、控制方法和装置 发明专利 公布 CN202511840651.6 2025-12-08 CN121870626A 2026-04-17 王琛、张宁轩、黄兆皓 20 硅生长轴连接装置、硅生长系统及埚转偏差协同补偿方法 发明专利 公布 CN202511840788.1 2025-12-08 CN121874924A 2026-04-17 彭标、孙洪涛 21 一种晶圆的检测方法、系统及介质 发明专利 公布 CN202511840660.5 2025-12-08 CN121925097A 2026-04-24 史铁柱、庞鲁、王龙 22 单晶硅的拉晶控制方法、装置及相关设备 发明专利 公布 CN202511826516.6 2025-12-05 CN121538725A 2026-02-17 杨松、赵亮 23 绝缘体上硅衬底及其制备方法、射频绝缘体上硅晶圆 发明专利 公布 CN202511830184.9 2025-12-05 CN121908606A 2026-04-21 张博、兰洵、车宇航、王文娟、刘贵浩 24 晶圆的清洗方法、设备、以及晶圆 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511815254.3 2025-12-04 CN121604750A 2026-03-03 党快乐、兰洵 25 一种双面抛光方法、双面抛光设备及硅片 发明专利 公布 CN202511817716.5 2025-12-04 CN121870547A 2026-04-17 郭宏雁、陈祖庆 26 硅片切割线痕判定方法及装置、电子设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511772774.0 2025-11-28 CN121374876A 2026-01-23 王黎昱、陈曦鹏 27 一种外延片边缘形貌补偿型晶圆双面抛光装置及方法 发明专利 公布 CN202511770029.2 2025-11-28 CN121535652A 2026-02-17 王俊夫 28 晶圆处理方法及装置、电子设备 发明专利 公布 CN202511775486.0 2025-11-28 CN121548286A 2026-02-17 张城旗、苏艳宁、王黎昱 29 晶圆检测与标识的设备、方法及介质 发明专利 公布 CN202511775182.4 2025-11-28 CN121865898A 2026-04-14 李乐杰、张钊、范东方、陈建勇 30 半导体晶圆及其制备方法 发明专利 公布 CN202511779796.X 2025-11-28 CN121865669A 2026-04-14 刘贵浩、兰洵、车宇航、王文娟、张博 31 一种用于晶棒生长的控制装置、方法以及拉晶炉 发明专利 公布 CN202511762453.2 2025-11-27 CN121556142A 2026-02-24 蔡媛媛 32 化学机械抛光设备及抛光方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511755819.3 2025-11-27 CN121696842A 2026-03-20 王泽康 33 改善晶圆平坦度的方法、装置、设备、系统及存储介质 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511766166.9 2025-11-27 CN121756221A 2026-03-31 习恒 34 一种基于重力自适应限位的晶圆边缘刻蚀装置及方法 发明专利 公布 CN202511761617.X 2025-11-27 CN121843479A 2026-04-10 郝宁、程辰辰 35 一种抛光垫及晶圆抛光方法 发明专利 公布 CN202511766031.2 2025-11-27 CN121821202A 2026-04-10 王俊夫、柴朝军 36 硅片线痕检测方法、装置、存储介质及电子设备 发明专利 公布 CN202511767321.9 2025-11-27 CN121888926A 2026-04-17 张申申 37 载具搬运方法、系统、装置及计算设备 发明专利 公布 CN202511764667.3 2025-11-27 CN121925077A 2026-04-24 李迅、范东方、王贵石、张更 38 一种具有集成式温度补偿的双面抛光系统及方法 发明专利 公布 CN202511755203.6 2025-11-26 CN121552239A 2026-02-24 王俊夫 39 一种拉晶收尾控制方法、装置、设备及计算机存储介质 发明专利 公布 CN202511755172.4 2025-11-26 CN121629510A 2026-03-10 刘锦章 40 单晶硅棒的磨削控制方法、装置、存储介质及电子设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511759290.2 2025-11-26 CN121733370A 2026-03-27 闫旭斌 41 晶圆生产的控制方法、装置、设备、系统及存储介质 发明专利 公布 CN202511755100.X 2025-11-26 CN121865897A 2026-04-14 赵恒、范东方、陈建勇、张钊 42 一种晶圆的清洗控制方法、设备、晶圆及计算机存储介质 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511742590.X 2025-11-25 CN121620113A 2026-03-06 党快乐、兰洵 43 抛光设备、抛光方法、评估方法及抛光硅片 发明专利 公布 CN202511744803.2 2025-11-25 CN121798496A 2026-04-07 吕绍沈 44 加料装置、二次加料方法及单晶炉 发明专利 公布 CN202511723278.6 2025-11-21 CN121802535A 2026-04-07 代俊乐 45 确定硅片放置方向的方法、装置、设备及介质 发明专利 公布 CN202511722852.6 2025-11-21 CN121837362A 2026-04-10 李康康 46 硅片边缘抛光设备及方法、控制装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511711516.1 2025-11-20 CN121223677A 2025-12-30 默玉海 47 参数监控方法及装置、电子设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511711413.5 2025-11-20 CN121433159A 2026-01-30 王龙飞 48 一种包装袋折袋装置及方法 发明专利 公布 CN202511711385.7 2025-11-20 CN121536561A 2026-02-17 李毅波、苏建生、韩嘉豪、王奕杰 49 在双面抛光中抑制晶圆划伤的系统、方法及双面抛光设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511711576.3 2025-11-20 CN121589713A 2026-03-03 王俊夫 50 晶棒拉速的优化方法、装置、设备及计算机存储介质 发明专利 公布 CN202511712015.5 2025-11-20 CN121903418A 2026-04-21 秦浩、庞鲁、王龙、同嘉锡天眼查数据显示，西安欣芯材料科技有限公司成立日期2022年8月3日，法定代表人刘还平，所属行业为计算机、通信和其他电子设备制造业，企业规模为中型，注册资本504400万人民币，实缴资本355000万人民币，注册地址为陕西省西安市高新区西沣南路1888号1号办公楼1-1-046室。西安欣芯材料科技有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目171次，财产线索方面有商标信息0条，专利信息174条，拥有行政许可25个。
西安欣芯材料科技有限公司近期专利情况如下：
序号 专利名称 专利类型 法律状态 申请号 申请日期 公开(公告)号 公开(公告)日期 发明人 1 硅片刻蚀方法和硅片刻蚀设备 发明专利 公布 CN202610079762.8 2026-01-21 CN121865865A 2026-04-14 贾志怡 2 抛光头组件、化学机械抛光系统及晶圆的制备方法 发明专利 公布 CN202511911677.5 2025-12-17 CN121624982A 2026-03-10 王鹏、许涛、杨启 3 线切割装置及线切割取样方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511899233.4 2025-12-16 CN121403584A 2026-01-27 王晋飞 4 清洗设备、清洗方法、清洗装置、控制设备、产品及介质 发明专利 公布 CN202511866027.3 2025-12-11 CN121665982A 2026-03-13 张树星、陈海龙、夏新超、左斌 5 一种籽晶倾斜检测方法及装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511855413.2 2025-12-10 CN121366283A 2026-01-20 彭标、孙洪涛 6 晶圆检测方法及相关装置 发明专利 公布 CN202511837367.3 2025-12-08 CN121665979A 2026-03-13 吕天爽 7 晶棒长度的确定方法、装置、介质及晶体生长系统 发明专利 公布 CN202511840689.3 2025-12-08 CN121874923A 2026-04-17 赵亮 8 一种单片清洗装置及方法 发明专利 公布 CN202511840630.4 2025-12-08 CN121888884A 2026-04-17 左斌、陈海龙、王颖、张树星、夏新超 9 硅生长轴连接装置、硅生长系统及埚转偏差协同补偿方法 发明专利 公布 CN202511840788.1 2025-12-08 CN121874924A 2026-04-17 彭标、孙洪涛 10 单晶硅的拉晶控制方法、装置及相关设备 发明专利 公布 CN202511826516.6 2025-12-05 CN121538725A 2026-02-17 杨松、赵亮 11 一种双面抛光方法、双面抛光设备及硅片 发明专利 公布 CN202511817716.5 2025-12-04 CN121870547A 2026-04-17 郭宏雁、陈祖庆 12 硅片切割线痕判定方法及装置、电子设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511772774.0 2025-11-28 CN121374876A 2026-01-23 王黎昱、陈曦鹏 13 晶圆处理方法及装置、电子设备 发明专利 公布 CN202511775486.0 2025-11-28 CN121548286A 2026-02-17 张城旗、苏艳宁、王黎昱 14 一种用于晶棒生长的控制装置、方法以及拉晶炉 发明专利 公布 CN202511762453.2 2025-11-27 CN121556142A 2026-02-24 蔡媛媛 15 化学机械抛光设备及抛光方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511755819.3 2025-11-27 CN121696842A 2026-03-20 王泽康 16 改善晶圆平坦度的方法、装置、设备、系统及存储介质 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511766166.9 2025-11-27 CN121756221A 2026-03-31 习恒 17 一种拉晶收尾控制方法、装置、设备及计算机存储介质 发明专利 公布 CN202511755172.4 2025-11-26 CN121629510A 2026-03-10 刘锦章 18 单晶硅棒的磨削控制方法、装置、存储介质及电子设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511759290.2 2025-11-26 CN121733370A 2026-03-27 闫旭斌 19 加料装置、二次加料方法及单晶炉 发明专利 公布 CN202511723278.6 2025-11-21 CN121802535A 2026-04-07 代俊乐 20 硅片边缘抛光设备及方法、控制装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511711516.1 2025-11-20 CN121223677A 2025-12-30 默玉海 21 参数监控方法及装置、电子设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511711413.5 2025-11-20 CN121433159A 2026-01-30 王龙飞 22 基于深度学习模型的放肩控制方法、装置及相关设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511618385.2 2025-11-06 CN121451291A 2026-02-03 潘浩 23 冷却装置及单晶炉 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511554726.4 2025-10-29 CN121610884A 2026-03-06 彭标、孙洪涛 24 结晶控制设备、结晶控制方法、装置、控制设备及介质 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511494017.1 2025-10-20 CN121321211A 2026-01-13 赵亮 25 一种晶圆清洗系统和方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511482114.9 2025-10-16 CN121358206A 2026-01-16 吕天爽 26 一种抛光垫清洗设备及方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511422964.X 2025-09-30 CN121082581A 2025-12-09 李凡 27 一种外延硅晶圆及其制备方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511372934.2 2025-09-24 CN121472986A 2026-02-06 孙毅、贾帅 28 一种晶圆检测方法及装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511296601.6 2025-09-11 CN121123050A 2025-12-12 蒙亮亮、王雷、王奔、赵李鑫、万珣 29 一种晶圆的清洗干燥方法及装置 发明专利 公布 CN202511106481.9 2025-08-08 CN120954964A 2025-11-14 夏新超、张树星、陈海龙 30 一种晶圆缺陷的工艺段确定方法及装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511095534.1 2025-08-06 CN120933183A 2025-11-11 贾聪、王雷、赵李鑫、万珣、丁泉泉 31 晶圆的检测装置及晶圆的检测方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511096636.5 2025-08-06 CN120933184A 2025-11-11 苏旭文、戎淇舰、吕天爽、蒙亮亮 32 一种销环组件、双面抛光设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510966103.1 2025-07-14 CN120620063A 2025-09-12 陈祖庆 33 硅片的厚度测量方法及装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510964157.4 2025-07-14 CN120740458A 2025-10-03 蒙亮亮、王雷、苏旭文、贾聪、唐贝 34 吊渣装置及晶体生长设备、单晶炉渣料去除方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510863056.8 2025-06-25 CN120649139A 2025-09-16 冀泓宜 35 用于晶圆的清洗方法以及晶圆 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510852496.3 2025-06-24 CN120895459A 2025-11-04 郭宏雁、崔源进、左斌、张树星、夏新超 36 一种晶圆清洗方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510777036.9 2025-06-11 CN120878538A 2025-10-31 夏新超、李燦朝、张树星、陈海龙、左斌 37 一种晶圆缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510734809.5 2025-06-04 CN120635018A 2025-09-12 万珣、马强强 38 二次加料定位装置及单晶炉、二次加料方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510690564.0 2025-05-27 CN120443327A 2025-08-08 郑永远 39 一种晶圆缺口定位装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510669615.1 2025-05-23 CN120545237A 2025-08-26 刘文文 40 一种晶圆清洗方法及装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510672784.0 2025-05-23 CN120809603A 2025-10-17 夏新超、陈海龙、张树星 41 用于边缘刻蚀装置的处理方法以及边缘刻蚀方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510627483.6 2025-05-15 CN120727555A 2025-09-30 杨海龙 42 晶圆缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 发明专利 公布 CN202510504732.2 2025-04-22 CN120300019A 2025-07-11 万珣、苗小明、蒙亮亮 43 一种晶圆夹持器件的处理方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510499125.1 2025-04-21 CN120581461A 2025-09-02 吕天爽 44 硅片测量装置及其工作方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510399227.6 2025-04-01 CN120252586A 2025-07-04 万珣、蒙亮亮、王雷 45 晶圆缺陷检测方法和装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510391095.2 2025-03-31 CN120261327A 2025-07-04 苗小明、万珣 46 一种下料机械臂及研磨设备、研磨方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510379561.5 2025-03-28 CN120116135A 2025-06-10 王辉、孙建科 47 晶圆缺陷检测方法、装置和设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510380745.3 2025-03-28 CN120237034A 2025-07-01 万珣、马强强、史进 48 一种晶圆厚度检测设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510379026.X 2025-03-28 CN120232334A 2025-07-01 曹智 49 晶圆缺陷检测方法、装置和设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510379720.1 2025-03-28 CN120237033A 2025-07-01 万珣、王雷 50 缺陷检测设备的优化方法、装置、设备、程序产品及介质 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510364342.X 2025-03-26 CN120221428A 2025-06-27 贾聪、仝临杰、万珣声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI大模型基于第三方数据库自动发布，不代表新浪财经观点，任何在本文出现的信息均只作为参考，不构成个人投资建议。如有出入请以实际公告为准。如有疑问，请联系biz@staff.sina.com.cn。
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